Filtry

Szukana fraza: [Opis = "Praca opisuje metodykę, model oraz system ekspertowy usprawniające proces projektowania systemów automatycznej optycznej inspekcji \(AOI\) przeznaczonych do detekcji wad powierzchniowych. W opracowaniu przedstawiono rezultaty licznych prac teoretycznych i empirycznych\: analizę technologicznych systemów optycznej inspekcji powierzchni, analizę metod wspomagania procesów podejmowania decyzji na potrzeby projektowania systemów optycznej inspekcji, analizę metod przetwarzania oraz analizy obrazów cyfrowych"]

Wyników: 1

Obiektów na stronie:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji